Apabila memilih surfaktan untuk formulasi pembersihan atau aplikasi pemprosesan anda, buih ialah sifat penting. Contohnya, dalam aplikasi pembersihan permukaan keras manual—seperti produk penjagaan kenderaan atau pencuci pinggan yang dicuci dengan tangan—paras buih yang tinggi selalunya merupakan ciri yang diingini. Ini kerana kehadiran buih yang sangat stabil menunjukkan bahawa surfaktan diaktifkan dan menjalankan fungsi pembersihannya. Sebaliknya, untuk kebanyakan aplikasi pembersihan dan pemprosesan industri, buih boleh mengganggu tindakan pembersihan mekanikal tertentu dan menghalang prestasi keseluruhan. Dalam kes ini, perumus perlu menggunakan surfaktan berbuih rendah untuk memberikan prestasi pembersihan yang diingini sambil mengawal kepekatan buih. Artikel ini bertujuan untuk memperkenalkan surfaktan berbuih rendah, menyediakan titik permulaan untuk pemilihan surfaktan dalam aplikasi pembersihan berbuih rendah.
Aplikasi Berbuih Rendah
Buih dihasilkan oleh pengadukan pada antara muka permukaan udara. Oleh itu, tindakan pembersihan yang melibatkan pengadukan tinggi, pencampuran ricih tinggi atau penyemburan mekanikal selalunya memerlukan surfaktan dengan kawalan buih yang sesuai. Contohnya termasuk: mencuci bahagian, pembersihan CIP (bersih di tempat), menyental lantai mekanikal, dobi industri dan komersial, cecair kerja logam, pencuci pinggan mangkuk, pembersihan makanan dan minuman dan banyak lagi.
Penilaian Surfaktan Rendah Buih
Pemilihan surfaktan—atau gabungan surfaktan—untuk kawalan buih bermula dengan menganalisis ukuran buih. Pengukuran buih disediakan oleh pengeluar surfaktan dalam literatur produk teknikal mereka. Untuk pengukuran buih yang boleh dipercayai, set data hendaklah berdasarkan piawaian ujian buih yang diiktiraf.
Dua ujian buih yang paling biasa dan boleh dipercayai ialah ujian buih Ross-Miles dan ujian buih ricih tinggi.
•Ujian Buih Ross-Miles ，menilai penjanaan buih awal (buih kilat) dan kestabilan buih di bawah pengadukan yang rendah dalam air. Ujian mungkin termasuk bacaan paras buih awal, diikuti dengan paras buih selepas 2 minit. Ia juga boleh dijalankan pada kepekatan surfaktan yang berbeza (cth, 0.1% dan 1%) dan tahap pH. Kebanyakan perumus yang mencari kawalan buih rendah menumpukan pada pengukuran buih awal.
•Ujian Ricih Tinggi (lihat ASTM D3519-88).
Ujian ini membandingkan ukuran buih dalam keadaan kotor dan tidak tercemar. Ujian ricih tinggi juga membandingkan ketinggian buih awal dengan ketinggian buih selepas 5 minit.
Berdasarkan mana-mana kaedah ujian di atas, beberapa surfaktan di pasaran memenuhi kriteria untuk bahan berbuih rendah. Walau bagaimanapun, tanpa mengira kaedah ujian buih yang dipilih, surfaktan berbuih rendah juga mesti mempunyai sifat fizikal dan prestasi penting yang lain. Bergantung pada aplikasi dan persekitaran pembersihan, ciri kritikal lain untuk pemilihan surfaktan mungkin termasuk:
•Prestasi pembersihan
•Atribut persekitaran, kesihatan dan keselamatan (EHS)
•Sifat pembebasan tanah
•Julat suhu yang luas (iaitu, sesetengah surfaktan berbuih rendah hanya berkesan pada suhu yang sangat tinggi)
•Kemudahan formulasi dan keserasian dengan bahan lain
•Kestabilan peroksida
Bagi perumus, mengimbangi sifat-sifat ini dengan tahap kawalan buih yang diperlukan dalam aplikasi adalah penting. Untuk mencapai keseimbangan ini, selalunya perlu untuk menggabungkan surfaktan yang berbeza untuk menangani kedua-dua keperluan buih dan prestasi—atau untuk memilih surfaktan buih rendah hingga sederhana dengan fungsi yang luas.
Masa siaran: Sep-11-2025